В Омске стартовала конференция РФИВ – 2026
6 октября пленарным заседанием в конференц-зале Президиума Омского научного центра СО РАН открылась IV Международная научная конференция «Радиофизика, фотоника и исследование свойств вещества» (РФИВ-2026), соорганизаторами которой выступили Омский НИИ приборостроения (входит в Холдинг Росэл Госкорпорации Ростех), Институт радиофизики и физической электроники ОНЦ СО РАН при поддержке ОмГУ им. Ф.М. Достоевского и ОмГПУ.
Открыл пленарное заседание конференции генеральный директор АО «ОНИИП» Владимир Березовский. В своём приветственном слове он отметил важность данного мероприятия для развития науки и наукоёмкого производства не только в омском регионе, но и в России в целом.
Также к участникам и гостям конференции обратились министр промышленности и торговли Омской области Андрей Посаженников, первый заместитель министра науки, высшего образования и научно-технологического развития Омской области Ольга Косач, начальник управления инвестиций и предпринимательства департамента городской экономической политики Администрации города Омска Сергей Баженов, директор ОНЦ СО РАН Валерий Карпов и ректор ОмГУ им. Ф.М. Достоевского Иван Кротт, которые поздравили всех собравшихся в зале с этим важным для отечественного и зарубежного научного сообщества событием и пожелали участникам ярких запоминающихся дискуссий и новых научных открытий.
Кроме того, в рамках открытия конференции прошла торжественная церемония награждения почетными грамотами и благодарственными письмами различного уровня сотрудников Омского НИИ приборостроения, приуроченная ко дню образования предприятия.
Пленарное заседание продолжилось деловой частью. Здесь были представлены доклады д-р физ.-мат. наук, профессора, главного научного сотрудника ИРФЭ ОНЦ СО РАН, ведущего научного сотрудника ОмГПУ Павла Боброва «Диэлектрический метод исследования свойств почв и осадочных пород», начальника отдела АО «МЦСТ» Антона Воробьева «Микропроцессорная платформа «Эльбрус» для задач ЦОС и численного моделирования. Аспекты проектирования подложек для высокопроизводительных микропроцессоров», ведущего инженера АО «ЦКБА» Юрия Вольхина «О некоторых ключевых проблемах в области отечественной радиофотоники» и профессора, д-р физ.-мат. наук, заведующего кафедрой ОмГУ им. Ф.М. Достоевского, начальника НИЛ АО «ОНИИП» Владимира Струнина «Физико-технические основы технологий плазменного формирования пленок». Доклады вызвали живой интерес слушателей.
Первый рабочий день конференции продолжается секционными заседаниями, на которых рассматриваются актуальные вопросы и проблемы физики излучения и распространения радиоволн, исследования ионосферы, радиофизических и электрофизических методов исследования свойств вещества, дистанционного зондирования Земли. Также участники конференции осветят вопросы моделирования радиофизических процессов и систем, функциональной электроники и фотоники.
«Раз в два года наша конференция собирает на своей площадке лучшие умы российской и зарубежной науки, представителей региональной и областной власти, научных учреждений, руководителей и специалистов крупнейших промышленных предприятий, студентов и преподавателей вузов – всех тех, кто заинтересован в эффективном взаимодействии академической, вузовской и отраслевой науки, кому не безразлично будущее страны и её научный и технологический суверенитет. Особенностью РФИВ в этом году стало то, что она получила статус международной: среди участников конференции есть представители Казахстана, Кыргызстана, Беларуси, Вьетнама и Китая», – отметил представитель ОНИИП.
Работа IV Международной научной конференции «Радиофизика, фотоника и исследование свойств вещества» продлится до 8 октября.
