НАУЧНЫЕ УЧРЕЖДЕНИЯ
НАУЧНЫЕ УЧРЕЖДЕНИЯ
ОНЦ СО РАН участвует в координации и интеграции исследований научных организаций, расположенных на территории региона
Первые подразделения
математического и химического профиля в Омске были созданы в 1978 году
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
Организация и проведение научных исследований, ОКР и ОТР, образовательной деятельности, внедрение достижений науки
в производство
Деятельность направлена
на содействие технологическому, экономическому и социальному развитию России и Омской области
ИНСТИТУТ РАДИОФИЗИКИ И ФИЗИЧЕСКОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
ИНСТИТУТ РАДИОФИЗИКИ И ФИЗИЧЕСКОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
Фундаментальные научные исследования в интересах промышленности
От исследований и разработок до технологических решений
ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ
ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ
Уникальное современное высокоточное оборудование для научных исследований
Уникальное современное высокоточное оборудование для научных исследований
БИБЛИОТЕКА
БИБЛИОТЕКА
Фонд формируется
с уче­том научных направлений, развивающихся в академических научных учреждениях Омска.
Доступ к важнейшим
научно-образовательным электронным отечественным и зарубежным электронным базам
СОВЕТ НАУЧНОЙ МОЛОДЕЖИ
СОВЕТ НАУЧНОЙ МОЛОДЕЖИ
Объединяет Советы молодых учёных научных учреждений СО РАН, координируемых ОНЦ СО РАН
Цель работы – способствовать вовлечению молодёжи
в науку, профессиональному росту молодых учёных и популяризации науки.

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 с энергодисперсионным анализатором Inca-250

Производитель, год выпуска
«JEOL», Япония, 2008 г


Основные технические характеристики
Ускоряющее напряжение от 80 до 200 кВ,
увеличение до 1500000,
разрешение по линиям до 0.14 нм,
разрешение по точкам до 0.23 нм.
Имеется возможность работы в режимах: TEM, STEM,
HAADF, HRTEM.
Термоэлектронный источник электронов LaB6.
Размер пучка в TEM-режиме 20-200 нм
и 1-15 нм в STEM-режиме.
Регистрация CCD-камеры Gatan.


Сведения о метрологическом обеспечении средства измерения
Не относится к объектам обязательной сертификации

Возврат к списку