Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100 с энергодисперсионным анализатором Inca-250
Производитель, год выпуска
«JEOL», Япония, 2008 г
Основные технические характеристики
Ускоряющее напряжение от 80 до 200 кВ,
увеличение до 1500000,
разрешение по линиям до 0.14 нм,
разрешение по точкам до 0.23 нм.
Имеется возможность работы в режимах: TEM, STEM,
HAADF, HRTEM.
Термоэлектронный источник электронов LaB6.
Размер пучка в TEM-режиме 20-200 нм
и 1-15 нм в STEM-режиме.
Регистрация CCD-камеры Gatan.
Сведения о метрологическом обеспечении средства измерения
Не относится к объектам обязательной сертификации