НАУЧНЫЕ УЧРЕЖДЕНИЯ
НАУЧНЫЕ УЧРЕЖДЕНИЯ
ОНЦ СО РАН участвует в координации и интеграции исследований научных организаций, расположенных на территории региона
Первые подразделения
математического и химического профиля в Омске были созданы в 1978 году
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
НАУЧНАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
Организация и проведение научных исследований, ОКР и ОТР, образовательной деятельности, внедрение достижений науки
в производство
Деятельность направлена
на содействие технологическому, экономическому и социальному развитию России и Омской области
ИНСТИТУТ РАДИОФИЗИКИ И ФИЗИЧЕСКОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
ИНСТИТУТ РАДИОФИЗИКИ И ФИЗИЧЕСКОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
Фундаментальные научные исследования в интересах промышленности
От исследований и разработок до технологических решений
ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ
ЦЕНТР КОЛЛЕКТИВНОГО ПОЛЬЗОВАНИЯ
Уникальное современное высокоточное оборудование для научных исследований
Уникальное современное высокоточное оборудование для научных исследований
БИБЛИОТЕКА
БИБЛИОТЕКА
Фонд формируется
с уче­том научных направлений, развивающихся в академических научных учреждениях Омска.
Доступ к важнейшим
научно-образовательным электронным отечественным и зарубежным электронным базам
СОВЕТ НАУЧНОЙ МОЛОДЕЖИ
СОВЕТ НАУЧНОЙ МОЛОДЕЖИ
Объединяет Советы молодых учёных научных учреждений СО РАН, координируемых ОНЦ СО РАН
Цель работы – способствовать вовлечению молодёжи
в науку, профессиональному росту молодых учёных и популяризации науки.

Атомно-силовой микроскоп ACM MP 3D Stand Alone c принадлежностями

Производитель, год выпуска
“Asylum Research”, США, 2012 г.


Основные технические характеристики
Диапазон сканирования – 90 мкм, величина шума по XY не более 0,6 нм, величина нелинейности по XY не более 0,5 %, величина нелинейности по Z не более 0,2 %.
Оптическая система: суперлюминесцентный диод (SLD), уровень шума: не более 0,03 нм в диапазоне частот 0,1Гц-1кГц (с датчиками обратной связи). Узкополосный лазерный источник для уменьшения интерференции. Широкополосный фотодиод, что реализует увеличенную пропускную способность для детектирования отклонения и латеральных сигналов до МГц. Оптическая система наблюдения за образцом включает двойную1/4" камеру ССD с 720 мкм и 240 мкм полем обозрения. Три вида наблюдения: сверху, снизу и их комбинация.


Сведения о метрологическом обеспечении средства измерения
Не относится к объектам обязательной сертификации

Возврат к списку